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非線性光學(xué)系列
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雙光子吸收測(cè)試的原理與應(yīng)用
時(shí)間分辨熒光光譜的數(shù)據(jù)分析方法
閃光光解系統(tǒng)的原理和組成部分
提升碳化硅成像檢測(cè)系統(tǒng)精度的關(guān)鍵技術(shù)分析
深紫外熒光系統(tǒng)的原理和特點(diǎn)
碳化硅成像檢測(cè)的應(yīng)用領(lǐng)域
SHG100非線性SHG測(cè)試系統(tǒng)電控位移臺(tái):行程范圍20x20mm。支持同步觸發(fā)掃描,用于SHG成像。
Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100抖動(dòng)消除:參比雙通道信號(hào)同時(shí)采集;功率檢測(cè)范圍:50 nW-40 mW。
服務(wù)熱線:18698665927